Bruker Tracer 5i

強大、彈性兼具互動性的手持式 X 射線螢光分析儀

繼原有功能強大的Tracer家族系列後, 布魯克再度根據使用者的需求而開發, 提供更高階的攜帶型XRF產品- Tracer 5i, 其性能是市售一般手持式XRF無法比擬, 藝術/考古學/鑑定/修復市佔率第一, 受到世界知名各大博物館青睞.

Bruker 隆重推出新一代 TRACER 手持式 XRF元素分析儀系統。全新 TRACER 5i 經過重新設計使性能與操作彈性都更加提升，能夠提供充分的使用者互動，同時還保有 TRACER 舉世公認的獨家功能與全方位分析軟體。

優勢特點

更低的輕元素偵測能力與檢測下限 (與現有的Tracer家族對照)

元素偵測範圍從F - U, (市售最靈敏之攜帶型XRF分析儀), 非真空或是非氦氣吹拂狀態下極有極佳的輕元素偵測能力

超越一般手持式XRF的F(氟), Ne(氖), Na(鈉), Mg(鎂), Al(鋁), Si(矽)的輕元素檢測範圍與下限

依舊傳承Tracer家族可抽真空的特點 (專用真空幫浦)

氣體流動通道 - 可提供氦氣吹拂, 或搭配其它氣體來協助分析

無線遙控觸發測試功能 (可搭配平板或是電腦)

內建CCD照相機

搭載全新製程的檢測器

無段式電壓電流調整- 完全開放給高階使用者

手動可調式光斑

自動與手動濾波器共存機構- 可隨時手動更換濾波器 (原廠高達百種濾波器可供選購, 針對客戶不同應用)

溫度與壓力補償機制

超過二十種標準檢量線可供選購

市售唯一原廠備有專門針對古物/藝術/考古學專用的檢量線

市售唯一原廠擁有龐大的古物/藝術/考古學專用的分析資料庫

Bruker高階設備所下放的高階檢量線建立/修正軟體 - 提供更完善的自建資料庫分析功能

全新整合的套裝軟體

TRACER 5i 分析儀

可滿足各種應用和材料需求，從廣泛的一般測試到高級應用和各式不斷變化的複雜研究。

無論是藝術保護和考古學，學術研究，食品安全農業應用，地球化學到先進材料，TRACER都可以徹底準確地分析元素組成並確定標準或複雜材料。

TRACER可以分析多種樣品類型，包括液體，漿料，粉末，土壤，沉積物，污泥，纖維素，聚合物，紙，固體，金屬和合金。