Bruker Tracer III-SD
布魯克Tracer系列XRF分析儀成為藝術修復和專業考古/古物分析的首選
全球在考古學界與博物館藝術修復領域市佔率No.1的專業設備
Tracer家族的系統提供特殊的應用靈活性, 該系統可以在實驗室中使用，或者戶外，可由PC或PDA來控制。
在藝術和考古學領域，Tracer適合於各種用途來作為確定其文化價值與物品的產地來源，在基於元素數據的地球化學調查應用上，往往是一個至關重要的應用工具.
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在藝術的保護和修復領域中，元素成分需要可靠的確認與含量的分析，以確保可以適當且正確的修復. 同時依據分析所成立的資料庫來做進一步的認證，與建立來源出處等.
Tracer用戶可以針對任何樣品，任何材料進行定量曲線的生成. Tracer是世界上唯一擁有專門為藝術品以及考古類樣品研發的定量曲線系統。並非一般手持式XRF設備可以比擬
優勢一覽
•等同於桌上型儀器的校能，兼顧手持的便利
•高效能的筆記型電腦且搭載專業的資料庫分析軟體
•自主定義與更換濾波器種類，甚至可以依據不同的被測物來客製化濾波器促使分析最佳化（Tracer III-SD機型可讓使用者完全手動更換濾波器)
•即時波譜顯示
•專為藝術考古設計，提供高敏度的輕元素檢測,如鎂，鋁，矽，硫，磷和氯, 鈉元素 (非真空/非氦氣狀態下即有輕元素偵測能力)
•專有的XFlash®SDD技術，以提高計數率和更高的分辨率（Tracer-SD機型）
•真空技術 (可抽真空) 與合作夥伴美國太空總署提供極致的輕元素的靈敏度/ 同時可以氦氣吹拂達到更驚人的鈉元素的檢測下限能力
•提供使用者最高的參數微調設定與權限. 原廠擁有龐大的古物資料庫做為強而有力的應用後援
NASA 的馬歇爾太空飛行中心及KeyMaster Technologies Inc.
開發了一款用於手持式XRF 分析儀的真空附件，增強其對任何材料輕元素合金的鑑別與含量分析能力NASA 已利用此創新檢測及評估普遍用於NASA 飛行硬體中的鋁元素和其他輕元素的成分，對於需要精確鑑別材料基本成分者，此創新亦可增強相關研究與試驗的執行能力。
此技術已取得專利並且授權KeyMaster（該公司於開發完成後由Bruker Corporation 併購）用於全球商業用途，包括藝術品及手工藝品的鑑定與保存、研究及其他各種應用。
技術緣起
NASA 為了在發射台上分析太空梭的推進系統，而需要一組輕元素專業鑑別裝置。NASA 的馬歇爾太空飛行中心技術移轉室於2001 年指定KeyMaster 為夥伴，共同滿足NASA 的這項需求。在此之前，市面上的所有手持式XRF 掃描器都只能檢測重金屬，因為從比鈦輕的金屬傳回的微弱X 射線會受到空氣的阻礙而難以偵測處理。NASA 和KeyMaster 簽訂了一份太空行動合約，共同改善及增強該公司現有XRF 分析儀的功能。依合約規定，NASA 提供製作原型所需的材料以及評估新功能所需的專業知識，KeyMaster 提供持續開發XRF 所需的產品專業技術與設備。新技術已取得專利，且真空技術亦於2004年授權KeyMaster 使用。如今採用該項技術的機型為Bruker 的Tracer III-SD 及Tracer III-V，此兩裝置的用途非常廣泛，可滿足NASA 及商用市場的需求。
關於技術
真空泵以直接固定的方式安裝在手持式XRF 裝置上，不會影響該裝置的攜帶性。附真空泵的新裝置可大幅減少樣品與檢測器之間的空氣，是第一台具備鋁合金檢測能力的手持式XRF，而鋁是飛行硬體上常見的元素。新技術可輕鬆快速地分析非均勻材料以及執行均勻材料的含量分析，應用範圍包括從鎂到鈽元素構成的材料。使用者可藉助該儀器的高敏度鑑別含量低至ppm 的基質樣品構成元素。Bruker Tracer XRF 分析儀的敏度、功率、輕質設計及非破壞特性使其成為手持式XRF 技術的尖端產品。
透過夥伴關係及技術移轉滿足需求
NASA 購買Tracer 裝置除進行材料的失效分析外，亦用該裝置分析外部槽桶的焊條及評估飛行硬體的污染、腐蝕及材料偏差。NASA 亦可將該技術用於需要鑑別材料元素及其含量的研究與試驗，例如為準備登月旅行而模擬月球表土時所進行的品管作業。
在商用市場上，Tracer 以非破壞方式鑑別元素成分及其含量的能力，使其成為博物館藝術品及考古工藝品的分析儀選項之一。全世界大多數博物館皆使用分析儀確定珍貴文物的起緣或取得元素資料以進行地球化學研究。此儀器是完成文物鑑定的重要工具。對於破損的畫作或其他工藝器，分析儀還可協助博物館鑑別顏料或其他材料的成分，以利復原工作。Tracer 亦廣泛用於研究與教學、採礦與探勘、物質監測與鑑別，以及消費品（如藥品及維化命）成分試驗，以確保產品的元素含量符合規定及辨識有害污染物。地毯協會（CRI）在執行其認證標誌計畫時，亦與一獨立實驗室使用Tracer 裝置，對清除自地毯樣品的塵土進行精確的類型與含量分析，以確定真空效果功能。全球超過1000家博物館及大學使用Tracer XRF 分析儀進行研究及試驗。
