Nanoview 6800 ( 控制器/主機二合一型 )
觀察樣品表面形貌的儀器設備，主要應用於石墨烯、奈米材料、陶瓷、薄膜、碳奈米管等奈米级别的材料，可實現高度測量、水平測量、二维形貌、三维形貌、粗糙度分析等各種數據分析。
描述
工作模式 標配模式 : 接觸式、輕敲式
選配 : Phase、MFM、EFM、LFM
樣品尺寸 直徑< 90mm; 高< 20mm
掃瞄範圍 X: 50 um , Y: 50um , Z: 5um
掃描解析度 X:0.2 nm ,Y:0.2 nm ,Z:0.05 nm
CCD(倍率/解析度) 定倍 10x / 1um
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